CUBE 金属夹杂物扫描电镜
EM科特（EmCrafts）Cube系列金属夹杂物扫描电镜，可根据不同的检测需求，灵活定制自动分析流程，保证高通量快速运行。同时可将您所需要的样品信息，如颗粒尺寸、形状、长宽比等同时显示在界面。即使是初学者也可以方便快速地获得整个样品中几千甚至几万颗粒的信息。
PicoFemto（皮飞） 透射电镜电学测量样品杆
PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆，可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量，同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
TESCAN RISE扫描电镜
RISE扫描电镜将拉曼光谱分析与扫描电子显微镜分析集成为一体，在获得样品微观形貌的同时，可对同一区域进行拉曼光谱检测，这一过程都是自动且样品一直处于高真空状态下，不仅保证结果的高度准确性，同时避免了环境或移动样品时可能造成的污染。该仪器已获得了2014年分析
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
正置显微镜BX51WI/BX61WI
电生理实验理想的无震动平台，适合进行膜片钳、脑片和活体观察等实验。革命性的无震动设计理念使这款显微镜具备了无与伦比的系统稳定性，出色的红外成像系统也是其显著的特点之一，它同样是奥林巴斯共聚焦系统的显微镜平台。BX51WI为手动显微镜，BX61WI为电动显微镜。
蔡司关联扫描电镜—拉曼成像平台（RISE）
蔡司关联扫描电镜—拉曼成像平台（RISE）将共聚焦拉曼成像系统（CRM）集成在SEM舱室中。具有优异表面分析能力的SEM成像与Raman分析功能优势结合，助力您的研究更上一层楼。